제품 소개
Nanosurf NaioAFM은 스캔 헤드·컨트롤러·방진 구조·샘플 스테이지가 하나의 컴팩트 본체에 통합된 나노 표면 분석 장비로, 설치 즉시 나노미터 단위의 표면 형상(Topography) 분석이 가능해 초보자나 교육 현장에서도 쉽게 사용할 수 있습니다.
Feature
- All-in-One 완전 일체형 구조스캔 헤드, 컨트롤러, X-Y 스테이지, 진동/공기 흐름 차단 장치를 하나의 본체로 통합
- Alignment-Free Cantilever캔틸레버 교체 시 레이저 및 디텍터의 별도 위치 보정이 필요 없는 손쉬운 구조
- 듀얼 카메라(Dual-Camera) 시스템Top-view 및 Side-view 카메라를 동시 지원하여 샘플 및 탐침 위치를 실시간 정밀 관찰
- 설치 공간 90% 이상 절약거대한 외장 방진대나 복잡한 서버 랙 없이 일반 데스크톱 책상 위에서 즉시 구동
- 원클릭 가이드 소프트웨어초보 연구자도 수 분 내에 데이터를 얻을 수 있는 직관적 유저 인터페이스(UI) 제공
Hightlight
- 다양한 측정 모드 지원
- 기본 Contact Mode 및 Dynamic(Tapping) Mode를 모두 지원하여 바이오, 폴리머, 반도체 등 샘플 특성에 맞춘 표면 형상 및 Roughness 측정이 가능합니다.
- 확장 모드 옵션(Naio Advanced Modes)
- Spreading Resistance, Force Modulation, Advanced Spectroscopy 및 Lithography 옵션을 접목해 미세 물리적/전기적 특성 평가까지 대응합니다.
Application
- 나노 교육 및 실습학부/대학원생 대상 나노테크놀로지(NT) 실습 교육
- 재료 과학 (Materials Science)금속, 스피너, 고분자 박막 표면 조도(Roughness) 및 나노 구조 분석
- 바이오 & 라이프 사이언스단백질, 세포, DNA 등 생체 시료의 고분해능 표면 관찰
- 반도체 & 디스플레이미세 패턴 및 박막 코팅면 균일도 평가
- 품질 관리 (QC/QA)부품 세척 전/후 세척 잔류물 및 표면 미세 스크래치 검사
- 표면 가공 및 나노 패터닝미세 표면의 기계적/물리적 변형 평가