제품 소개
LensAFM은 별도의 장비를 새로 도입하지 않고, 기존에 보유 중인 광학현미경이나 3D profilometer에 장착하여 사용하는 모듈형 원자력 현미경(AFM)입니다. 기존 광학 기기의 관찰 시스템을 그대로 활용하면서, 일반 광학 한계를 뛰어넘는 나노미터(nm) 수준의 3차원 표면 형상 분석 및 물리적 특성 측정을 빠르게 확인할 수 있습니다.
Features
- 원터치 대물렌즈 모듈 방식기존 현미경에 렌즈를 장착하여 동작 가능
- 광범위한 Z축 스캔 범위최대 22 µm의 Z-Range를 제공하여 비교적 높낮이 차가 큰 미세 구조물도 정밀 측정 가능
- 초고해상도 3D 토포그래피광학 현미경으로는 식별이 불가능했던 극미세 표면 결함(Defect) 및 조도(Roughness)를 서브-나노미터 수준으로 시각화
- 자동 탐침 접근(Automated Approach)Cantilever를 이용하는 모든 기본 조작모드가 가능
Hightlight
- 다양한 AFM 측정 모드 지원 (C3000 호환)
- 기본 형상 모드Static Force Mode, Dynamic Force Mode (Tapping Mode), Phase Imaging Mode
- 전기적/자기적 특성 분석Conductive-AFM (C-AFM), Electrostatic Force Microscopy (EFM), Magnetic Force Microscopy (MFM)
- 기계적 특성 분석Force Spectroscopy, Force Mapping, 경도/마찰력/접착력 측정
Application
- Roughness measurements
- Defect analysis
- Sharp edge radius
- Step heights
- Material Properties (Hardness variations, Conductance/resistance, magnetism)
FAQ
Q1.기존 광학현미경 대비 가장 큰 차이점/장점은 무엇인가요?
A.기존 광학현미경은 광학 회절 한계로 인해 수백 나노미터 이하의 수직 단차나 미세 구조를 관찰할 수 없었습니다. LensAFM을 장착하면 기존 광학 현미경의 넓은 시야(FOV)와 샘플 이동 기능을 그대로 사용하면서, 필요한 영역에서 Z축 서브-나노미터 수준의 3차원 정밀 AFM 토포그래피 데이터를 즉시 확보할 수 있습니다.
Q2.필요한 샘플 양이나 시약 조건은 어떻게 되나요?
A.LensAFM은 물리적 캔틸레버 탐침을 이용하여 표면을 스캐닝하므로 별도의 전처리나 특수 시약이 필요하지 않습니다. 광학현미경 스테이지 위에 올릴 수 있는 크기라면 고체, 박막, 분말, 코팅층 등 다양한 형태의 샘플을 비파괴 방식으로 측정할 수 있습니다.
Q3.보유 중인 데이터/장비와 호환이 되나요?
A.거의 모든 브랜드(Olympus, Nikon, Zeiss, Leica 등)의 정립 광학현미경 및 3D 프로파일로미터의 표준 대물렌즈 터렛에 호환 장착 가능합니다. 또한 Nanosurf C3000 소프트웨어를 통해 얻은 데이터는 CSV, TIFF, 3D 랜더링 형식 등 표준 연구용 포맷으로 내보내기가 가능하여 기존 연구 데이터와 손쉽게 연동됩니다.
Q4.데모 신청이나 테스트가 가능한가요?
A.네, 가능합니다. 국내 공식 대리점인 자연과학㈜(Chayon)을 통해 보유 중인 광학현미경 기종과의 호환성 확인 및 방문 데모/샘플 측정 서비스를 신청하실 수 있습니다. (문의: 02-3471-4100 / info@chayon.co.kr)
Q5.장비 설치 공간 및 환경 조건은 어떻게 되나요?
A.LensAFM은 별도의 독립형 AFM 제어 테이블이나 넓은 공간이 필요하지 않습니다. 기존 광학현미경 터렛에 대물렌즈처럼 스크류로 체결하고 소형 컨트롤러만 연결하면 되므로 추가적인 설치 공간이 거의 필요하지 않습니다.
제품 사양
| Scan head type | 110-μm / 70-μm |
|---|---|
| Maximum scan range (XY) ⁽¹’²⁾ | 110 μm (110-μm model) / 70 μm (70-μm model) |
| Maximum Z-range ⁽¹⁾ | 22 μm (110-μm model) / 14 μm (70-μm model) |
| XY-linearity mean error | < 0.6% (110-μm model) / < 1.2% (70-μm model) |
| Z-measurement noise level (RMS, Static mode) ⁽³⁾ | typ. 350 pm (max. 500 pm) |
| Z-measurement noise level (RMS, Dynamic mode) ⁽³⁾ | typ. 90 pm (max. 150 pm) |
| Automatic sample approach | Built-in motorized parallel approach with 4.5 mm travel |
| Cantilever alignment | Automatic self-adjustment through alignment chip technology |
| Sample observation ⁽⁴⁾ | Built-in 8× objective lens with 45 or 60 mm parfocal distance |
| AFM measurement repositioning precision | ±10 μm (including cantilever exchange, scan head remounting, and approach) |