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Nanosurf

DriveAFM

세포, DNA, 단백질부터 반도체, 금속까지 나노 단위 표면형상 분석이 가능한 High-End 주사탐침현미경(AFM)입니다. 탐침이 직접표면을 분석하여 별도의 시료 전처리가 필요 없으며 광열 여기법 (photothermal exciation)으로 pN의 정밀함으로 기계적 물성을 동시에 신속하게 측정합니다.

DriveAFM

제품 소개

세포, DNA, 단백질 등 섬세한 제어가 필요한 물질의 나노 단위 표면/형상 분석이 가능한 고사양 AFM 시스템으로 기계적 표면 물성에 상관없이 모든 소재 분야에 사용할 수 있는 범용성이 높은 Nanosurf의 독보적인 플레그십 기기입니다.

Feature

  • Clean Drive기존 Piezo shaker 대신 광열 기반 excitation 기술을 적용해 pN 단위의 힘제어 구현
  • Direct DriveTip scanning 방식으로 샘플 종류와 무게에 따른 실험 영향을 최소화하여 ultra low noise를 실현
  • 도립현미경 및 글러브박스와의 호환타겟팅한 부위를 다양한 환경에서 즉시 측정 가능
  • 다양한 material properties 측정LFM(friction), KPFM(work function), PFM(ferroelectric) 등 고급 실험은 물론, roughness, force spectroscopy 등 시료의 다양한 물성 데이터 확보 가능
  • 다양한 옵션 지원Heating, Cooling, 환경 제어 등의 옵션을 통해 온도 민감 시료나 특정 온도 조건에서의 측정에도 대응 가능

응용분야

  • 생물학적, 고분자, 반도체, 금속 등 다양한 나노 구조 및 표면 형상 분석
  • 나노스케일 전기적, 자기적, 기계적 정량적 분포도 평가
  • 고속 표면이미징을 통한 타임랩스-메커니즘 분석

FAQ

Q1.기존 현미경 분석 방식 대비 DriveAFM의 핵심 차별점은 무엇인가요?
A.CleanDrive-광열 구동 기술을 탑재하여 pN 수준의 정밀하게 제어된 힘으로 탐침이 표면을 직접 분석하는 방식이라 팁 변형이 없고 시료 전처리와 종류에 상관없이 고속으로 일관성 있는 데이터 획득이 가능합니다. 레이저 자동 정렬, 전체 모터화 시스템을 갖추고 있어 매우 간편하며 공기 중은 물론 용액 환경에서도 고해상도 나노 표면 분석을 안정적으로 수행할 수 있습니다.
Q2.분석 시 필요한 샘플 조건이나 배양 용기 규격, 호환 조건은 어떻게 되나요?
A.최대 직경 15 cm 크기의 샘플까지 측정 가능하며, 세포, DNA, 단백질 등 생물학적 시료를 공기 중(Air)뿐 아니라 용액(Liquid) 환경에서도 별도의 복잡한 전처리 없이 슬라이드 글래스나 페트리디쉬를 사용하여 즉시 측정할 수 있습니다.
Q3.데이터 분석 소프트웨어 호환성 및 측정 데이터 관리 기능은 어떻게 지원되나요?
A.자동 정렬(Auto Alignment) 및 제어 시스템이 연동되어 측정 신호의 신뢰성을 높이며, 이를 통해 획득한 나노 표면 형상 데이터와 Force Spectroscopy 데이터를 바탕으로 구조적·기계적 특성을 손쉽게 분석할 수 있습니다. 또한 DriveAFM은 Visco-Elastic, Nanomechanical, Spectroscopy Plus, ViewPort 등 다양한 전문 분석 소프트웨어를 제공하여 효율적인 데이터 관리와 심층적인 분석을 지원합니다.
아울러 범용적인 ASCII 형식의 데이터 저장을 지원하므로, 사용자는 필요에 따라 타 소프트웨어로 데이터를 손쉽게 내보내고 후속 분석을 진행할 수 있습니다.

제품 사양

Scan sizetyp. 100 × 100 × 20 μm, min. 95 × 95 × 18 μm
Read-out source850 nm low-coherence SLD
CleanDrive source785 nm laser
Photodetector bandwidth≥8 MHz
Sample sizeStandard 100 mm / max. 150 mm
Z-height noisedynamic <30 pm RMS / static <30 pm RMS
DC detector noise<5 pm RMS, 0.1 Hz~1 kHz
AC detector noise<25 fm/√Hz above 100 kHz
Approach10 mm motorized
CX high-resolution output12 × 28-bit, 1 MHz
CX fast output4 × 16-bit, 100 MHz
CX high-resolution input12 × 20-bit, 1 MHz
CommunicationGigabit Ethernet
Imaging최대 8000 × 8000 points
Standard modesStatic/dynamic force, phase, MFM, friction, force modulation, EFM
Advanced optionPFM, KPFM, dual pass, C-AFM

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