제품 소개
CoreAFM은 스캐너, XYZ 샘플 스테이지, 광학 카메라 및 컨트롤러를 일체형으로 통합한 원자힘현미경(AFM)입니다. 복잡한 셋업 없이 전원과 USB 연결만으로 신속하게 고해상도 나노 표면 영상화 및 특성 분석을 시작할 수 있습니다.
Feature
- 33가지 다양한 분석 모드 지원기본 표면 형상(Topography) 측정부터 전기적·기계적 물성 분석까지 단 하나의 시스템으로 가능
- SpikeGuard 보정분석 도중 발생하는 비정상적인 왜곡 현상을 실시간으로 복원 가능
- 유연한 모듈형 확장성연구 목적 변화에 따라 KPFM, PFM, EFM, MFM, FluidFM 등 다양한 특수 옵션을 손쉽게 추가 모듈로 확장 가능
Highlight
- 통합형 플랫폼으로 도입 장벽 최소화
- 일반적인 연구용 AFM은 스캐너, 방진, 컨트롤러, 관찰계를 각각 맞춰야 하는 경우가 많지만 CoreAFM은 필수 구성요소를 한 시스템으로 묶어 설치와 운용 부담을 줄입니다.
- 모듈형 업그레이드로 연구 확장성 확보
- 기본 Static/Dynamic/Lateral/Phase 이미징은 물론 MFM, 분광, 리소그래피, Conductive AFM, PFM, KPFM, EFM, FluidFM, SICM 등으로 단계적으로 확장할 수 있어 초기 도입 후에도 연구 과제 변화에 유연하게 대응합니다.
응용분야
- 재료 표면 형상 및 조도(Roughness) 분석
- 고분자·세라믹·금속·2D 소재의 나노 구조 평가
- 전도도·정전용량·자기·압전 특성 분석
- 전기화학 및 에너지 저장 소재 연구
- Colloidal probe를 활용한 계면/상호작용 연구
FAQ
Q1.기존 연구용 AFM 대비 CoreAFM의 가장 큰 장점은 무엇인가요?
A.CoreAFM의 핵심 장점은 통합성과 확장성입니다. 스캐너, XYZ 스테이지, 카메라, 능동형 방진, 공기 흐름 차단 구조, 24-bit 컨트롤러가 하나로 구성되어 셋업 부담을 줄이면서도 33개 모드·기능과 다양한 옵션으로 연구 범위를 넓힐 수 있습니다.
Q2.보유 중인 장비나 실험 구성과의 호환성은 어떤가요?
A.CoreAFM은 DIMO, FluidFM, 온도 제어, Petri-dish 홀더, 150 μm Z actuator 등 다양한 액세서리와 옵션으로 확장할 수 있도록 설계되었습니다. 다만 현재 보유 장비와의 구체적 연동 구성은 사용 목적에 따라 달라질 수 있으므로 도입 전 옵션 구성을 함께 검토하는 것이 좋습니다.
다.
다.
제품 사양
| 최대 스캔 범위(XY) | 100 μm |
|---|---|
| 최대 Z 범위 | 12 μm |
| 검출기 노이즈(RMS) | typ. 60 pm (max. 100 pm) |
| 동적 Z 노이즈(RMS) | typ. 40 pm (max. 70 pm) |
| 정적 Z 노이즈(RMS) | typ. 100 pm |
| 스캐너 평탄도 | < 5 nm |
| 샘플 크기 | 표준 <50 mm / 확장 <100 mm |
| 샘플 높이 | 표준 <5 mm / 확장 <10 mm / 최대 <40 mm |
| 샘플 접근 | 전동식 Z-stage 기반 자동 평행 접근 (범위 5 mm) |
| 컨트롤러 | 24-bit ADC / DAC |
| 크기 | 350 × 395 × 242 mm |
| 무게 | 30.5 kg |
| 전원 | 100–240 VAC, 50/60 Hz, 50 W |